二项点过程覆盖模型的正态逼近
Normal approximation for coverage models over binomial point processes
摘要：
我们给出了误差界，证明了最佳的收敛速度在CLT的总覆盖量和孤立的形状的数量，为胚芽-晶粒模型与固定的晶粒半径在一个二项式点过程的$n$点在一个环形空间区域的体积$n$。证明是基于Stein的方法通过大小偏置耦合。
英文摘要：
We give error bounds which demonstrate optimal rates of convergence in the CLT for the total covered volume and the number of isolated shapes, for germ-grain models with fixed grain radius over a binomial point process of $n$ points in a toroidal spatial region of volume $n$. The proof is based on Stein's method via size-biased couplings.
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