FLASH: A "Generate Once, Synthesize Many" Framework for Synthetic Anomaly Generation in Industrial Anomaly Detection
FLASH:工业异常检测中合成异常生成的“一次生成,多次合成”框架
机构 * Silicon University(硅谷大学) ; Intel(英特尔)
AI总结 FLASH提出“一次生成,多次合成”框架,解耦缺陷生成与异常合成,利用VLM和图像生成模型提取可复用缺陷补丁,结合OBS和MRSP高效合成多样异常,在MVTec AD 2上以78.1% F1接近真实异常性能,速度提升11.95倍。
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