硅烯在Ag（111）上的可变耦合强度
Variable Coupling Strength of Silicene on Ag(111)
摘要：
利用扫描隧道显微镜和能谱（STM/STS）研究了Ag（111）表面根（3）Xroot（3）-silicene的电子结构.我们发现根（3）Xroot（3）-silicene与Ag（111）衬底的耦合强度在不同区域是不同的，在实验中产生了显著的影响。这些硅烯与基底的相互作用是不耦合的或可变的证据有助于深入理解硅烯的结构和电子性质。
英文摘要：
We performed a scanning tunneling microscopy and spectroscopy (STM/STS) study on the electronic structures of of root(3)Xroot(3)-silicene on Ag(111). We find that the coupling strength of root(3)Xroot(3)-silicene with Ag(111) substrate is variable at different regions, giving rise to notable effects in experiments. These evidences of decoupling or variable interaction of silicene with the substrate are helpful to in-depth understanding of the structure and electronic properties of silicene.
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