KLIP: localized distribution shift detection via KL-divergence with diffusion priors in Inverse Problems
KLIP:通过逆问题中扩散先验的KL散度进行局部分布偏移检测
机构 * Georgia Institute of Technology(佐治亚理工学院)
AI总结 提出基于KL散度的OOD检测指标,无需校准数据或偏移分布知识,可检测并定位图像中的局部分布偏移。
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