Technion - Israel Institute of Technology（以色列理工学院）

RFSeek and Ye Shall Find

Noga H. Rotman, Tiago Ferreira, Hila Peleg, Mark Silberstein, Alexandra Silva

机构 * Technion - Israel Institute of Technology（技术ion-以色列理工学院） ； University College London（伦敦大学学院） ； Cornell University（康奈尔大学） 纠错

Comments 7 pages

Are LLMs Better than Reported? Detecting Label Errors and Mitigating Their Effect on Model Performance

Omer Nahum, Nitay Calderon, Orgad Keller, Idan Szpektor, Roi Reichart

机构 * Technion - Institute of Technology（技术学院-理工学院） ； Google Research（谷歌研究） 纠错