医学 AI

SurgWound-Bench: A Benchmark for Surgical Wound Diagnosis

Jiahao Xu, Changchang Yin, Odysseas Chatzipanagiotou, Diamantis Tsilimigras, Kevin Clear, Bingsheng Yao, Dakuo Wang, Timothy Pawlik, Ping Zhang

机构 * The Ohio State University（俄亥俄州立大学） ； The Ohio State University Wexner Medical Center（俄亥俄州立大学韦克斯纳医学中心） ； Northeastern University（东北大学） 纠错

专题命中 诊断辅助 ：diagnosis(title,abstract)；分类 cs.CV、eess.IV

Bladder Cancer Diagnosis with Deep Learning: A Multi-Task Framework and Online Platform

Jinliang Yu, Mingduo Xie, Yue Wang, Tianfan Fu, Xianglai Xu, Jiajun Wang

机构 * Peking University（北京大学） ； State Key Laboratory for Novel Software Technology at Nanjing University, School of Computer Science, Nanjing University（南京大学软件新技术国家重点实验室，计算机科学学院） ； Department of Urology, Zhongshan Hospital, Fudan University（复旦大学中山医院泌尿科） 纠错

专题命中 诊断辅助 ：diagnosis(title,abstract)；分类 cs.CV、eess.IV

XDR-LVLM: An Explainable Vision-Language Large Model for Diabetic Retinopathy Diagnosis

Masato Ito, Kaito Tanaka, Keisuke Matsuda, Aya Nakayama

机构 * SANNO University（三ノ大学） 纠错

专题命中 诊断辅助 ：diagnosis(title,abstract)；分类 cs.CV

AI-Powered Machine Learning Approaches for Fault Diagnosis in Industrial Pumps

Khaled M. A. Alghtus, Ayad Gannan, Khalid M. Alhajri, Ali L. A. Al Jubouri, Hassan A. I. Al-Janahi

机构 * Humboldt-Universität zu Berlin, Institut für Physik, AG Moderne Optik（柏林洪堡大学物理学院现代光学小组） ； University of Doha for Science and Technology, College of Engineering and Technology, Department of Mechanical Engineering Technology（多哈科学技术大学工程学院机械工程技术系） 纠错

专题命中 诊断辅助 ：diagnosis(title)；分类 cs.LG

TS-Insight: Visualizing Thompson Sampling for Verification and XAI

Parsa Vares, Éloi Durant, Jun Pang, Nicolas Médoc, Mohammad Ghoniem

机构 * University of Luxembourg（卢森堡大学） ； Luxembourg Institute of Science and Technology（卢森堡科学与技术研究所） 纠错

专题命中 诊断辅助 ：diagnosis(abstract)；分类 cs.LG

Comments Accepted as a poster at IEEE VIS 2025 ("TS-Insight: Visual Fingerprinting of Multi-Armed Bandits"). Open-source tool available at https://github.com/LIST-LUXEMBOURG/ts-insight

Silent Data Corruption by 10x Test Escapes Threatens Reliable Computing

Subhasish Mitra, Subho Banerjee, Martin Dixon, Rama Govindaraju, Peter Hochschild, Eric X. Liu, Bharath Parthasarathy, Parthasarathy Ranganathan

专题命中 诊断辅助 ：diagnosis(abstract)