Electronic Trap Detection with Carrier-Resolved Photo-Hall Effect
利用载流子分辨的光电Hall效应检测电子陷阱
专题命中 扩散模型 :diffusion(abstract)
AI总结 本研究提出了一种基于光电Hall效应的新方法,用于检测和表征半导体中的电子陷阱状态,同时提取载流子属性,通过分析光电Hall电导与电导率的关系,揭示了电荷输运和陷阱占据的详细信息。
Comments Main manuscript (15 pages, 3 figures) and Supplementary information (27 pages, 7 figures, 4 tables)
Journal ref Science Advances 12, eadz0460 (2026)