2506.01678
2026-06-19
cond-mat.mtrl-sci
cs.AI
版本更新
70%
Overcoming Labelled Data Scarcity for Defect Classification in Scanning Tunneling Microscopy
克服扫描隧道显微镜缺陷分类中的标注数据稀缺问题
Nikola L. Kolev, Max Trouton, Filippo Federici Canova, Geoff Thornton, David Z. Gao, Neil J. Curson, Taylor J. Z. Stock
发表机构
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London Centre for Nanotechnology, University College London(伦敦纳米技术中心,伦敦大学学院)
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Department of Electronic and Electrical Engineering, University College London(电子与电气工程系,伦敦大学学院)
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Department of Physics and Astronomy, University College London(物理与天文学系,伦敦大学学院)
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Department of Chemistry, University College London(化学系,伦敦大学学院)
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Aalto Science Institute, School of Science, Aalto University(艾尔沃斯科学研究所,艾尔沃斯大学)
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Nanolayers Research Computing LTD, London, UK(纳米层研究计算有限公司,伦敦,英国)
;
Department of Physics, NTNU Norwegian University of Science and Technology(物理系,挪威科技大学)
专题命中
材料化学
:少样本学习用于STM图像缺陷分类。
AI总结
提出结合少样本学习和无监督学习的自动分割方法,在仅需少量标注数据下实现高精度STM图像缺陷分类,并在三种表面验证了强泛化能力。