自下而上全息界面中的紫外耗散与缺陷OPE

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我们研究了arXiv:2601.16888v3中定义的径向紫外耗散量$c_{UV}$以及自下而上全息界面中的缺陷OPE数据。我们将$c_{UV}$连同大缺陷维度极限下的缺陷主谱和BOPE系数与全息体中的光学长度$\rho$联系起来。此外，我们证明了一个新的关于共形界面的全息界，将纠缠熵、能量传输和紫外耗散联系起来：\\[ c_{LR}\geq \frac{2c_{\mathrm{eff}}}{2+\pi(c/c_{\mathrm{UV}}-1)}. \\] 这补充了arXiv:2404.01515中证明的$c_{LR}$由$c_\text{eff}$给出的上界。

英文摘要

We study the radial ultraviolet dissipation quantity $c_{UV}$ defined in arXiv:2601.16888v3 and defect OPE data in bottom-up holographic interfaces. We relate $c_{UV}$ along with the defect primary spectrum and BOPE coefficients in the large defect dimension limit to the optical length $ρ$ in the holographic bulk. In addition, we prove a new holographic bound for conformal interfaces relating entanglement entropy, energy transmission and UV dissipation: \[ c_{LR}\geq \frac{2c_{\mathrm{eff}}}{2+π(c/c_{\mathrm{UV}}-1)}. \] This compliments the upper bound of $c_{LR}$ by $c_\text{eff}$ proved in arXiv:2404.01515.

发表机构

• Weinberg Institute for Theoretical Physics, The University of Texas at Austin（德克萨斯大学奥斯汀分校温伯格理论物理研究所）
• Kavli Institute for the Physics and Mathematics of the Universe (WPI), The University of Tokyo Institutes for Advanced Study, The University of Tokyo（东京大学 Kavli宇宙物理与数学研究所（WPI），东京大学高等研究院）

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