CBM RICH前端电子学的性能与质量测试
Performance and quality testing of CBM RICH front-end electronics
首次发表
浏览论文内容
中文总结 AI 辅助
本文介绍伍珀塔尔大学实验室装置，用于测量电荷共享串扰、测试MAPMT-DIRICH读出电子学的高计数率和高占用率性能，并分析新型DIRICH电源模块的噪声特性。
中文摘要 AI 辅助
本文介绍了伍珀塔尔大学的实验室装置，并利用该装置测量电荷共享串扰，使用真实探测器设置对MAPMT-DIRICH读出电子学进行高计数率和高占用率测试，还包括对用于CBM RICH读出链的新型DIRICH电源模块的感应电子噪声特性分析。
英文摘要
This note describes the laboratory setup at the University of Wuppertal and its use to measure charge sharing crosstalk, perform high rate and high occupancy tests of MAPMT-DIRICH readout elec- tronics using a realistic detector setup, and also includes the analysis of induced electronic noise characteristics of a new iteration of the DIRICH power module to be used in the CBM RICH readout chain.
发表机构
- University of Wuppertal（伍珀塔尔大学）
机构由 AI 辅助整理，请以论文原文为准。
