用于单粒子效应测试的快速 Crowbar 保护电路设计

Design of a Fast Crowbar Protection Circuit for Single Event Effect Testing

Collin Burt, Joseph D'Amico, Joseph Van Grinsven, Tommy Aldaz, Nathaniel Dodds

arXiv 2608.27772首次发表：2026-08-31更新：2026-08-31

AI 中文总结

该研究设计了一种定制 Crowbar 电路，可在单粒子锁定/烧毁测试中，当超过可编程电流阈值时快速切断电源，以保护器件免受永久损坏

AI 中文摘要

我们设计了一种定制 Crowbar 电路，当超过可编程电流阈值时可快速切断电源，在单粒子锁定/烧毁测试中保护器件免受永久损坏

英文摘要

We describe the design of a custom crowbar circuit that quickly removes power when a programmable current threshold is exceeded. This protects devices from permanent damage during single event latchup/burnout tests.

Comments5 pages. 11 figures. Submitted to the IEEE NSREC2026 Conference

论文原文

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