超低能（20 - 300 eV）电子成像与衍射
Ultra-low energy (20 - 300 eV) electron imaging and diffraction
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本研究对比低能电子与商用透射电镜常规能量电子的特性，介绍低能电子衍射、低能电子全息术的原理及实验方案。
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本讲讨论低能电子与商用透射电子显微镜所用常规能量电子相比的特性，介绍并探讨低能电子衍射、低能电子全息术的原理及实验方案。
英文摘要
The lecture discusses the properties of low-energy electrons compared to the electrons of conventional energies employed in commercial transmission electron microscopes. Low-energy electron diffraction and low-energy electron holography principles and experimental schemes are presented and discussed.
