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基于超快脉冲激光的光电耦合器单粒子瞬态效应评估

Ultrafast pulsed laser evaluation of Single Event Transients in opto-couplers

Kavin Dave, Aditya Mukherjee, Hari Shanker Gupta, Deepak Jain, Shalabh Gupta

AI总结:

本研究搭建了基于1064 nm光纤激光的测试系统以模拟电子元件的单粒子瞬态(SET),并首次利用该装置在4N35光电耦合器中观测到SET,为相关器件的辐射效应评估提供了测试手段。

摘要:

我们搭建了基于1064 nm光纤激光系统的测试装置,用于模拟不同电子元件及集成电路中的SET(单粒子瞬态)。利用该装置,我们首次对4N35光电耦合器开展测试并观测到SET。

英文摘要:

We build a 1064 nm fiber laser system-based testing facility for emulating SETs in different electronics components and ICs. Using these facilities, we tested the 4N35 optocoupler to observe SETs for the first time.

机构、总结、中文摘要均由AI分析而来,可能存在错误,请以论文正文为准。

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