约瑟夫森行波参量放大器的在运行微波散射参数校准测量
In-operando microwave scattering-parameter calibrated measurement of a Josephson travelling wave parametric amplifier
AI总结：
本文应用微波校准技术在运行中提取基于约瑟夫森结的TWPA的S参数，量化TWPA及其扩展网络中的反射，发现运行性能可由关闭态测量的S参数良好描述。
摘要：
超导行波参量放大器（TWPAs）是宽带近量子极限微波放大器，常用于量子比特读出及量子技术中的其他应用。这些放大器的性能取决于实现阻抗匹配以最小化反射信号。在此我们应用微波校准技术，在运行中提取基于约瑟夫森结的TWPA的S参数。这使得TWPA及其扩展组件网络中发生的反射能够被量化，我们发现运行中的性能可以很好地由关闭态测量的S参数描述。
英文摘要：
Superconducting travelling wave parametric amplifiers (TWPAs) are broadband near-quantum limited microwave amplifiers commonly used for qubit readout and a wide range of other applications in quantum technologies. The performance of these amplifiers depends on achieving impedance matching to minimise reflected signals. Here we apply a microwave calibration technique to extract the S-parameters of a Josephson junction based TWPA in-operando. This enables reflections occurring at the TWPA and its extended network of components to be quantified, and we find that the in-operation performance can be well described by the off-state measured S-parameters.
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