低阶有理面处通过电子温度展平实现的微撕裂湍流饱和
Microtearing turbulence saturation via electron temperature flattening at low-order rational surfaces
AI总结：
本研究针对高β托卡马克中的微撕裂湍流输运问题，发现低阶有理面处电子温度梯度展平决定饱和通量水平，且该过程依赖系统尺寸，会产生差于gyro-Bohm的输运标度。
摘要：
微撕裂不稳定性是高β托卡马克中湍流输运的主要来源之一。这些模式会在低阶有理磁场线处引发高度局域化的输运，我们的研究表明，这些有理面处局部电子温度梯度的展平对确定微撕裂湍流的饱和通量水平具有重要作用。该过程关键取决于有理面的密度，进而取决于系统尺寸，并且在现有托卡马克和模拟的典型系统尺寸下，会导致差于陀螺玻姆（gyro-Bohm）的输运标度。
英文摘要：
Microtearing instability is one of the major sources of turbulent transport in high-$β$ tokamaks. These modes lead to very localized transport at low-order rational magnetic field lines, and we show that flattening of the local electron temperature gradient at these rational surfaces plays an important role in setting the saturated flux level in microtearing turbulence. This process depends crucially on the density of rational surfaces, and thus the system-size, and gives rise to a worse-than-gyro-Bohm transport scaling for system-sizes typical of existing tokamaks and simulations.
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