Phase Reconstruction of a Cu(001) Seed Layer from $\textit{in situ}$ Polarized Neutron Reflectometry Data using Fe Reference Layers

原位极化中子反射法：DC磁控溅射法生长Fe/Cu（001）外延薄膜

In-situ Polarized Neutron Reflectometry: Epitaxial Thin Film Growth of Fe on Cu(001) by DC Magnetron Sputtering

本文报道了用原位极化中子反射法研究Fe在Cu（001）/Si（001）上外延生长的实验结果。溅射沉积系统集成到瑞士中子溅射源SINQ的中子反射计AMOR中，这使得能够分析Fe层的所有沉积步骤期间的微观结构和磁矩。我们报告的渐进演变的可访问的参数描述的微观结构和磁性的Fe膜，再现已知的功能和扩展我们的知识的行为的Fe 3 O 4铁膜。

Indications for Dzyaloshinskii-Moriya Interaction at the Pd/Fe Interface Studied by \textit{In Situ} Polarized Neutron Reflectometry

Using \textit{in situ} polarized neutron reflectometry, the depth resolved evolution of the magnetism and structure in a Pd/Fe/Pd trilayer thin-film is measured during growth. The initial film structure of Pd/Fe shows a small proximity induced magnetism in the underlayer and a magnetization in the Fe layer of $\approx1.6$\,$μ_{\text{B}}$ per Fe atom, less than the expected bulk value of $2.2$\,$μ_{\text{B}}$. Deposition of the Pd capping layer initially follows an island-like growth mode with subsequent coalescence. With increasing Pd deposition the Fe moment and the proximity-induced magnetis…

利用原位极化中子反射仪探测TbCo合金中氘诱导的磁相变

Probing deuterium-induced magnetic phase transitions in TbCo alloys with in-situ polarized neutron reflectometry

研究通过原位极化中子反射仪探讨氘对TbCo合金磁性相变的影响，发现Tb-rich合金中厚度膨胀是磁相变主机制，而Co-rich合金则无此现象，同时氧化界面对氘敏感但可间接调控。

超薄金属薄膜中垂直磁各向异性的起源：原位中子反射法研究

Origin of perpendicular magnetic anisotropy in ultra-thin metal films studied by in-situ neutron reflectometry

本研究利用原位偏振中子反射法结合脉冲激光沉积，揭示了超薄CoFeB/Mo双层结构中无需退火即可形成垂直磁各向异性，并展示了硅覆盖层对磁性能的显著影响，为自旋电子器件开发提供新途径。

紧凑型脉冲激光沉积系统用于原位极化中子反射仪

Compact pulsed laser deposition system for in-situ polarized neutron reflectometry

本文介绍了一种紧凑型脉冲激光沉积与原位极化中子反射仪结合的系统，用于研究单层和多层磁性薄膜的垂直磁各向异性形成。

用光学椭圆偏振法原位监测原子层外延

In situ monitoring of atomic layer epitaxy via optical ellipsometry

我们报告使用时间分辨光学椭圆偏振监测亚原子灵敏度的单原子层的沉积。采用金属有机气溶胶沉积法在SrTiO_3（100）、LSAT（100）和DyScO_3（110）衬底上生长了SrO（SrTiO_3）n=4的Ruddlesden-Popper薄膜。通过一个简单的光学模型，考虑原子层SrO和TiO 2的顺序与相应的体折射率的椭圆偏振角，$Δ(t)$和$Ψ(t)$，测量的时间依赖性进行了描述。结果，获得了关于生长过程、膜结构和缺陷的有价值的在线信息。非原位表征技术，即透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射（XRD）和X射线反射计（XRR）验证了晶体结构并证实了光学椭圆偏振法的预测。