arXivDaily arXiv每日学术速递 周一至周五更新
arXiv周末暂无论文更新,休息一下吧,周末愉快~~
arXiv 1502.07550hep-ex
收藏

用$D\to K_S^0π^+π^-$衰变的模型无关Dalitz图分析测量$B^0 \to D^0K^{*0}$和$B^0 \to \bar{D^0}K^{*0}$衰变的振幅比

Measurement of the amplitude ratio of $B^0 \to D^0K^{*0}$ and $B^0 \to \bar{D^0}K^{*0}$ decays with a model-independent Dalitz plot analysis using $D\to K_S^0π^+π^-$ decays

A. Abdesselam, I. Adachi, K. Adamczyk, H. Aihara, S. Al Said, K. Arinstein, Y. Arita, D. M. Asner, T. Aso, V. Aulchenko, T. Aushev, R. Ayad, T. Aziz, V. Babu, I… 展开作者

A. Abdesselam, I. Adachi, K. Adamczyk, H. Aihara, S. Al Said, K. Arinstein, Y. Arita, D. M. Asner, T. Aso, V. Aulchenko, T. Aushev, R. Ayad, T. Aziz, V. Babu, I. Badhrees, S. Bahinipati, A. M. Bakich, A. Bala, Y. Ban, V. Bansal, E. Barberio, M. Barrett, W. Bartel, A. Bay, I. Bedny, P. Behera, M. Belhorn, K. Belous, V. Bhardwaj, B. Bhuyan, M. Bischofberger, S. Blyth, A. Bobrov, A. Bondar, G. Bonvicini, C. Bookwalter, A. Bozek, M. Bračko, J. Brodzicka, T. E. Browder, D. Červenkov, M. -C. Chang, P. Chang, Y. Chao, V. Chekelian, A. Chen, K. -F. Chen, P. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, R. Chistov, K. Cho, V. Chobanova, S. -K. Choi, Y. Choi, D. Cinabro, J. Crnkovic, J. Dalseno, M. Danilov, S. Di Carlo, J. Dingfelder, Z. Doležal, Z. Drásal, A. Drutskoy, S. Dubey, D. Dutta, K. Dutta, S. Eidelman, D. Epifanov, S. Esen, H. Farhat, J. E. Fast, M. Feindt, T. Ferber, A. Frey, O. Frost, M. Fujikawa, B. G. Fulsom, V. Gaur, N. Gabyshev, S. Ganguly, A. Garmash, D. Getzkow, R. Gillard, F. Giordano, R. Glattauer, Y. M. Goh, B. Golob, M. Grosse Perdekamp, J. Grygier, O. Grzymkowska, H. Guo, J. Haba, P. Hamer, Y. L. Han, K. Hara, T. Hara, Y. Hasegawa, J. Hasenbusch, K. Hayasaka, H. Hayashii, X. H. He, M. Heck, M. Hedges, D. Heffernan, M. Heider, A. Heller, T. Higuchi, S. Himori, T. Horiguchi, Y. Horii, Y. Hoshi, K. Hoshina, W. -S. Hou, Y. B. Hsiung, M. Huschle, H. J. Hyun, Y. Igarashi, T. Iijima, M. Imamura, K. Inami, A. Ishikawa, K. Itagaki, R. Itoh, M. Iwabuchi, M. Iwasaki, Y. Iwasaki, T. Iwashita, S. Iwata, I. Jaegle, M. Jones, K. K. Joo, T. Julius, D. H. Kah, H. Kakuno, J. H. Kang, K. H. Kang, P. Kapusta, S. U. Kataoka, N. Katayama, E. Kato, Y. Kato, P. Katrenko, H. Kawai, T. Kawasaki, H. Kichimi, C. Kiesling, B. H. Kim, D. Y. Kim, H. J. Kim, J. B. Kim, J. H. Kim, K. T. Kim, M. J. Kim, S. H. Kim, S. K. Kim, Y. J. Kim, K. Kinoshita, C. Kleinwort, J. Klucar, B. R. Ko, N. Kobayashi, S. Koblitz, P. Kodyš, Y. Koga, S. Korpar, R. T. Kouzes, P. Križan, P. Krokovny, B. Kronenbitter, T. Kuhr, R. Kumar, T. Kumita, E. Kurihara, Y. Kuroki, A. Kuzmin, P. Kvasnička, Y. -J. Kwon, Y. -T. Lai, J. S. Lange, D. H. Lee, I. S. Lee, S. -H. Lee, M. Leitgab, R. Leitner, P. Lewis, J. Li, X. Li, Y. Li, L. Li Gioi, J. Libby, A. Limosani, C. Liu, Y. Liu, Z. Q. Liu, D. Liventsev, R. Louvot, P. Lukin, J. MacNaughton, D. Matvienko, A. Matyja, S. McOnie, Y. Mikami, K. Miyabayashi, Y. Miyachi, H. Miyake, H. Miyata, Y. Miyazaki, R. Mizuk, G. B. Mohanty, S. Mohanty, D. Mohapatra, A. Moll, H. K. Moon, T. Mori, H. -G. Moser, T. Müller, N. Muramatsu, R. Mussa, T. Nagamine, Y. Nagasaka, Y. Nakahama, I. Nakamura, K. Nakamura, E. Nakano, H. Nakano, T. Nakano, M. Nakao, H. Nakayama, H. Nakazawa, T. Nanut, Z. Natkaniec, M. Nayak, E. Nedelkovska, K. Negishi, K. Neichi, C. Ng, C. Niebuhr, M. Niiyama, N. K. Nisar, S. Nishida, K. Nishimura, O. Nitoh, T. Nozaki, A. Ogawa, S. Ogawa, T. Ohshima, S. Okuno, S. L. Olsen, Y. Ono, Y. Onuki, W. Ostrowicz, C. Oswald, H. Ozaki, P. Pakhlov, G. Pakhlova, H. Palka, E. Panzenböck, C. -S. Park, C. W. Park, H. Park, H. K. Park, K. S. Park, L. S. Peak, T. K. Pedlar, T. Peng, L. Pesantez, R. Pestotnik, M. Peters, M. Petrič, L. E. Piilonen, A. Poluektov, K. Prasanth, M. Prim, K. Prothmann, C. Pulvermacher, B. Reisert, E. Ribežl, M. Ritter, M. Röhrken, J. Rorie, A. Rostomyan, M. Rozanska, S. Ryu, H. Sahoo, T. Saito, K. Sakai, Y. Sakai, S. Sandilya, D. Santel, L. Santelj, T. Sanuki, N. Sasao, Y. Sato, V. Savinov, O. Schneider, G. Schnell, P. Schönmeier, M. Schram, C. Schwanda, A. J. Schwartz, B. Schwenker, R. Seidl, A. Sekiya, D. Semmler, K. Senyo, O. Seon, I. Seong, M. E. Sevior, L. Shang, M. Shapkin, V. Shebalin, C. P. Shen, T. -A. Shibata, H. Shibuya, S. Shinomiya, J. -G. Shiu, B. Shwartz, A. Sibidanov, F. Simon, J. B. Singh, R. Sinha, P. Smerkol, Y. -S. Sohn, A. Sokolov, Y. Soloviev, E. Solovieva, S. Stanič, M. Starič, M. Steder, J. Stypula, S. Sugihara, A. Sugiyama, M. Sumihama, K. Sumisawa, T. Sumiyoshi, K. Suzuki, S. Suzuki, S. Y. Suzuki, Z. Suzuki, H. Takeichi, U. Tamponi, M. Tanaka, S. Tanaka, K. Tanida, N. Taniguchi, G. Tatishvili, G. N. Taylor, Y. Teramoto, F. Thorne, I. Tikhomirov, K. Trabelsi, V. Trusov, Y. F. Tse, T. Tsuboyama, M. Uchida, T. Uchida, Y. Uchida, S. Uehara, K. Ueno, T. Uglov, Y. Unno, S. Uno, P. Urquijo, Y. Ushiroda, Y. Usov, S. E. Vahsen, C. Van Hulse, P. Vanhoefer, G. Varner, K. E. Varvell, K. Vervink, A. Vinokurova, V. Vorobyev, A. Vossen, M. N. Wagner, C. H. Wang, J. Wang, M. -Z. Wang, P. Wang, X. L. Wang, M. Watanabe, Y. Watanabe, R. Wedd, S. Wehle, E. White, J. Wiechczynski, K. M. Williams, E. Won, B. D. Yabsley, S. Yamada, H. Yamamoto, J. Yamaoka, Y. Yamashita, M. Yamauchi, S. Yashchenko, J. Yelton, Y. Yook, C. Z. Yuan, Y. Yusa, C. C. Zhang, L. M. Zhang, Z. P. Zhang, L. Zhao, V. Zhilich, V. Zhulanov, M. Ziegler, T. Zivko, A. Zupanc, N. Zwahlen, O. Zyukova, The Belle Collaboration

摘要:

我们报告了一个测量的振幅比$r_S$的$B^0 \to D^0K^{*0}$和$B^0 \to \bar{D^0}K^{*0}$衰变与模型无关的Dalitz图分析使用$D\to K_S^0π^+π^-$衰变。使用在KEKB加速器的Belle检测器的$Υ(4S)$共振处收集的$772\times10^6$ $B\bar{B}$对的完整数据样本,上限为68%置信水平的$r_S < 0.87$。这一结果是第一次测量$r_S$与模型无关的Dalitz分析,并与其他分析的结果一致。$r_S$的值表示衰减对$ϕ_3$的灵敏度,因为统计不确定性与$1/r_S$成比例。$r_S$结果由可观测量($x_\pm$,$y_\pm$)\begin{eqnarray} x_- &=& +0.4 ^{+1.0 +0.0}_{-0.6 -0.1} \pm0.0 \\ y_- &=& -0.6 ^{+0.8 +0.1}_{-1.0 -0.0} \pm0.1 \\ x_+ &=& +0.1 ^{+0.7 +0.0}_{-0.4 -0.1} \pm0.1 \\ y_+ &=& +0.3 ^{+0.5 +0.0}_{-0.8 -0.1} \pm0.1 \\ , \end{eqnarray}获得,其中$x_\pm = r_S \cos(δ_S \pm ϕ_3)$、$y_\pm = r_S \sin(δ_S \pm ϕ_3)$和$ϕ_3 (δ_S)$是$B^0 \to D^0K^{*0}$和$B^0 \to \bar{D^0}K^{*0}$之间的弱(强)相位差。第一个不确定度是统计的,第二个是实验系统的,第三个是由于CLEO测量的$c_i$和$s_i$参数的不确定度的系统。

英文摘要:

We report a measurement of the amplitude ratio $r_S$ of $B^0 \to D^0K^{*0}$ and $B^0 \to \bar{D^0}K^{*0}$ decays with a model-independent Dalitz plot analysis using $D\to K_S^0π^+π^-$ decays. Using the full data sample of $772\times10^6$ $B\bar{B}$ pairs collected at the $Υ(4S)$ resonance with the Belle detector at KEKB accelerator the upper limit is $r_S < 0.87$ at the 68 % confidence level. This result is the first measurement of $r_S$ with a model-independent Dalitz analysis, and is consistent with results from other analyses. The value of $r_S$ indicates the sensitivity of the decay to $ϕ_3$ because the statistical uncertainty is proportional to $1/r_S$. The $r_S$ result is obtained from observables ($x_\pm$, $y_\pm$) \begin{eqnarray} x_- &=& +0.4 ^{+1.0 +0.0}_{-0.6 -0.1} \pm0.0 \\ y_- &=& -0.6 ^{+0.8 +0.1}_{-1.0 -0.0} \pm0.1 \\ x_+ &=& +0.1 ^{+0.7 +0.0}_{-0.4 -0.1} \pm0.1 \\ y_+ &=& +0.3 ^{+0.5 +0.0}_{-0.8 -0.1} \pm0.1 \\ , \end{eqnarray} where $x_\pm = r_S \cos(δ_S \pm ϕ_3)$, $y_\pm = r_S \sin(δ_S \pm ϕ_3)$ and $ϕ_3 (δ_S)$ are the weak (strong) phase difference between $B^0 \to D^0K^{*0}$ and $B^0 \to \bar{D^0}K^{*0}$. The first uncertainty is statistical, the second is the experimental systematic and the third is the systematic due to the uncertainties on $c_i$ and $s_i$ parameters measured by CLEO.

机构、总结、中文摘要均由AI分析而来,可能存在错误,请以论文正文为准。

↑