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arXiv 0711.22852007-11-14hep-ex

使用CP标记的$D\toK_{S,L}ππ$衰变的CLEO-c对$γϕ_3$的影响

Impact on $γϕ_3$ from CLEO-c Using CP-tagged $D\toK_{S,L}ππ$ Decays

Eric White, Qing He

备注：: 5 pages, 5 figures, submitted to Charm 2007 Workshop Conference proceedings
发表信息：: ECONF C070805:26,2007

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摘要：

CKM角$γ/ϕ_3$的精确确定取决于对魅力混合振幅的约束、双Cabibbo抑制振幅和相对相位的测量以及对由风味或CP本征态标记的魅力Dalitz图的研究。在本说明中，我们描述了在CLEO-c使用的技术，以限制$K_{S,L}ππ$模型的不确定性，以及它的影响$γ/ϕ_3$测量在B工厂的魅力2007年研讨会。

英文摘要：

Precision determination of the CKM angle $γ/ϕ_3$ depends upon constraints on charm mixing amplitudes, measurements of doubly-Cabibbo suppressed amplitudes and relative phases, and studies of charm Dalitz plots tagged by flavor or CP eigenstates. In this note we describe the technique used at CLEO-c to constrain the $K_{S,L}ππ$ model uncertainty, and its impact on $γ/ϕ_3$ measurements at B-factories presented at the Charm 2007 Workshop.

机构、总结、中文摘要均由AI分析而来，可能存在错误，请以论文正文为准。

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