量子电导中电子粘性的处理
Treatment of electron viscosity in quantum conductance
摘要：
在最近的一篇论文中，Sai { \it et al.} [1]确定了对纳米级结的DC电导的校正$R^{dyn}$，所述纳米级结由时间依赖密度泛函理论内的动态交换相关（$XC$）效应引起。该数量通过$R=R_{s}+R^{dyn}$对总阻力有贡献，其中$R_{s}$是在不存在动态$XC$效应的情况下评价的阻力。在这篇评论中，我们表明，数值估计的$R^{dyn}$在示例系统的类型，他们认为应大大减少，一旦一个更合适的形式的剪切电子粘度$η$使用。
英文摘要：
In a recent paper Sai {\it et al.} [1] identified a correction $R^{dyn}$ to the DC conductance of nanoscale junctions arising from dynamical exchange-correlation ($XC$) effects within time-dependent density functional theory. This quantity contributes to the total resistance through $R=R_{s}+R^{dyn}$ where $R_{s}$ is the resistance evaluated in the absence of dynamical $XC$ effects. In this Comment we show that the numerical estimation of $R^{dyn}$ in example systems of the type they considered should be considerably reduced, once a more appropriate form for the shear electron viscosity $η$ is used.
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